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日本理学ZSX Primus III+上照射连续波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)

Rigaku ZSX Primus III+ 可快速定量测定种种样品类型中从氧 (O) 到铀 (U) 的主要和次要原子元素-使用最少的标准品。 优点

实现粉末、固体样品差别元素差别含量的高精度剖析。

高精度定位样品台满足合金剖析高精度要求。

特殊光学系统减少样品外貌不平而引起的误差。

样品室可简单移出便当清洁。

操作界面简洁、自动化水平高。


宁静性

接纳上照射设计,样品室可简单移出,再不必担心污染光路,清理麻烦和增加清理时间等问题。


■ 应用领域

固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素剖析。


■ 技术参数

元素从BeU的剖析

上照射式的光学器件使污染问题最小化

占地面积小,需要使用的实验室空间小。

高精度样品定位

特殊光学元件可减少曲面样品外貌造成的误差

统计历程控制软件工具(SPC

可以凭据样品量自主调理真空


上一个:日本理学ZSX Primus 400连续波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF),用于大样品下一个:日本理学ZSX Primus IV下照射波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)
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